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2023-6-12

2023年4月21-24日，第十二屆中國顆粒大會在海口魯能希爾頓酒店成功舉辦，本次會議是顆粒學領域綜合性學術年會，吸引了來自全國高校、科研院所、企事業單位的2000余名科技工作者參加，80余家單位參展。大會以“創新助力雙碳，綠色賦能發展”為主題，邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾冰等院士作特邀報告，圍繞顆粒學相關領域的科研進展、產業發展趨勢等展開交流。澳譜特科技專家劉偉教授應邀作了關于“動態光散射納米顆粒粒度測量方法進展”的主題報告，從“自動過濾受灰塵干擾的散射光、相關函數的截取方式...

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簡述動態圖像粒度粒形分析儀的工作原理動態圖像粒度粒形分析儀是一種利用動態圖像技術來分析顆粒物料的粒度分布和形狀特征的儀器。它廣泛應用于材料科學、地質學、環境科學、制藥、化工等領域，特別是在需要對顆粒進行動態觀察和分析的場合。動態圖像粒度粒形分析儀的工作原理主要包括樣品處理、光學成像、數據處理和結果分析等幾個方面：首... 查看詳情 2024-12-19
粒度測量的意義粒度是顆粒占據空間范圍大小的線性尺度，表面光滑的球形顆粒的直徑就是其粒度。粒度越小，顆粒的微細程度越大。實際顆粒的外形通常是非球形或表面不光滑的，當一個顆粒的某一物理特性與同質球形顆粒相同或相近時，通常用該球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的直徑，稱之為等效粒徑。根據不同的測量方法... 查看詳情 2024-11-19
Zeta電位分析儀的基本構造和工作原理 Zeta電位分析儀是一種用于測量顆粒表面電荷和顆粒溶液相互作用的儀器。它主要由電動機、光源、檢測器和計算機控制系統等部分組成。下面將詳細介紹Zeta電位分析儀的基本構造和工作原理。1、電動機：電動機主要用于控制顆粒的移動。通常采用旋轉電場或者激光光束束流技術，通過改變電場方向或者... 查看詳情 2024-10-21
圖像粒度粒形分析儀在環境監測中的作用圖像粒度粒形分析儀是一種先進的科學儀器，廣泛應用于環境和材料科學領域。它能夠精確測量顆粒的尺寸和形狀，為環境監測提供了強有力的支持。通過使用，研究人員可以識別和分析不同類型和來源的顆粒物，從而更好地理解其對環境和人類健康的潛在影響。環境監測中的一個主要內容是評估空氣質量。圖像粒度... 查看詳情 2024-09-18
解釋納米粒徑儀如何評估納米材料的穩定性納米粒徑儀通過測量納米顆粒的Zeta電位、粒徑分布以及在不同條件下的穩定性變化，來評估納米材料的穩定性。下面將具體闡釋如何運用納米粒徑儀來評估納米材料的穩定性：一、粒徑分布的測定動態光散射技術：利用動態光散射(DLS)技術，可以獲得納米顆粒的粒徑分布情況。這項技術通過分析散射光強... 查看詳情 2024-08-25
簡述納米粒度電位分析儀的工作原理納米粒度電位分析儀是一種用于測量納米顆粒在液體中分散狀態的儀器。它的工作原理基于動態光散射(DLS)技術，通過測量顆粒的布朗運動速度來推算顆粒的大小和表面電荷。在納米粒度電位分析儀中，激光光源發出的光束被聚焦到樣品容器中。當光線照射到納米顆粒上時，會發生散射現象。由于納米顆粒的尺... 查看詳情 2024-07-18

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